你不能修复你看不见的东西——Luna的OBR 4600使硅光电子设计具有前所未有的可视性

最近在加利福尼亚州阿纳海姆举行的OFC展会上，Luna Innovations展示了他们是如何做到这一点的预算责任办公室4600反射率计有助于推动硅光子学领域的研究。与布卢门撒尔和鲍尔斯光电研究小组在加州大学圣芭芭拉分校Luna创新演示了如何OBR 4600可用于确定分布式损失1米螺旋延迟线捏造硅平台上,占据只有1厘米²足迹。

OBR 4600是光耦合到波导使用单模玻璃纤维连接在一端用于OBR 4600前面板连接器。OBR 4600的噪音底面为-130分贝，动态范围为70分贝，空间分辨率为10微米，能够看到非常高的细节水平内部硅波导。OBR 4600不仅可以确定整个器件30 dB / m的总分布损失，而且还能够捕获水平波导穿过螺旋延迟的每个环时的单个损失事件，有些间距只有50微米。

图1到图3显示了在硅光子学器件内部开窗时OBR 4600的值，以表征整个光子电路的分布损失。

看不见的东西是无法修复的。虽然硅光子学设备是一个将大量功能封装在一个非常小的封装中的极端例子，但现实情况是，更高的数据速率正在推动数据中心组件制造商缩小无源光学组件的尺寸。OBR 4600 -它可以看到你的芯片内部，并帮助发现问题在你的设计周期的早期。

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