光通信与光子控制

光学器件测试和表征

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概述

对高精度、高速、先进的测试和测量仪器的需求是当今光子器件和系统的关键。Luna提供了广泛的测试解决方案,旨在减少测试时间,以最小的集成努力提高产量。从简单的IL/PDL测量到更复杂的表征和分析工具,Luna为制造商和设计师提供了他们需要的工具,以根据规格第一次和每次构建产品。bob软件苹果怎么下载

PIC和硅光子学测试

摘要光子集成电路(PIC)是满足高速增长的带宽、容量和性能需求的关键技术。在早期和整个开发周期中对PICs进行快速、准确和完整的测试至关重要。
硅光子学PIC器件

相干接收机极化测试

相干DWDM技术能够在单个波长上传输高达800gbps的数据,以满足日益增长的网络带宽需求。影响相干通信系统性能的重要光学参数之一是偏振。这些系统需要严格的极化测试来定量表征相干接收机的所有极化相关功能。
光纤电缆