PIC和硅光子学测试

光子集成电路(PICs)是推动通信、光学计算、航空航天、国防和医疗应用进展的关键使能器。bobapp综合体育下载然而，PICs引入了独特的度量挑战，而测试仍然是将产品推向市场的总体成本的一大贡献。bob软件苹果怎么下载现代PICs的有效测试需要更全面和复杂的方法，以确保最佳性能和降低开发成本。

Luna广泛的测试和测量解决方案为客户提供高精度、分辨率和测量速度仪器，以定量评估芯片上每个组件的光学性能，无论是在早期原型阶段还是在生产阶段。

Luna拥有以微米级空间分辨率在传输模式或反射模式下观察PICs内部的技术，从而对该设备进行完整的光学表征。

典型的测量包括:

• 插入损耗(IL)
• 回波损耗(RL)
• 偏振相关损耗(PDL)与波长的关系
• 反射率/传输损耗与距离
• 反射率/透射损耗与波长的关系
• 相位响应
• 群时延(GD)
• 色散(CD)与波长
• 偏振模色散(PMD)与波长的关系
• 二阶PMD与波长的关系
• 最小/最大损耗由于极化
• 脉冲响应
• 琼斯矩阵和穆勒矩阵元素
• 相位纹波-线性和二次的
• 极化性能与距离
• 偏振串扰与距离
• 偏振度(DOP)，偏振状态(SOP)和偏振消光比(PER)