用于测量光学系统或组件PDL的技术

由于对更高带宽的需求快速加速，数据中心连接从25g / 100g迁移到400g / 800g传输速度。预计相干接收机将能够减轻PDL的影响，因为它限制了高速通信系统的带宽容量。与可以补偿的其他损伤不同，例如偏振模式色散（PMD），PDL导致不能补偿的脉冲失真。

为了确保网络质量的服务质量，应最小化每个组件的PDL，并且必须保持网络的最大累积PDL，低于指定的限制。例如，标准化工作由OIF 400ZR IA和IEEE P802.3CT任务力（400GBASE-ZR）完成，以指定链路中的最大偏振相关损耗为2 dB，不包括发射器偏振不平衡。因此，作为指定标准参数的一部分，几乎所有光学组件，子模块和模块都需要精确的PDL测量。

有三种标准技术通常用于测量光学系统或组件的PDL：1）极化加扰/扫描，2）使用穆勒或琼斯矩阵的最大/最小搜索和3）矩阵测量。在测量速度，精度，光带宽和校准要求方面，每种方法都有自己的优点和缺点。

应该选择的方法取决于应用程序的要求。我们的新应用笔记提供三种方法和推荐应用的比较。