你无法修复你看不见的东西–Luna的OBR 4600为硅光子学设计提供了前所未有的可见性

在最近在加利福尼亚州阿纳海姆举办的OFC展会上，Luna Innovations展示了他们OBR 4600号反射计有助于推进硅光子学领域的研究。Luna Innovations与加州大学圣巴巴拉分校的Blumenthal和Bowers光电研究小组合作，演示了如何使用OBR 4600来确定在硅平台上制造的1米螺旋延迟线的分布损耗，该延迟线仅占1厘米²足迹。

OBR 4600是光学耦合到波导管使用单模玻璃纤维连接器在一端使用OBR 4600前面板连接器。OBR 4600的噪声地板为-130分贝，动态范围为70分贝，空间分辨率为10微米，能够看到显著的细节里面硅波导管。OBR 4600不仅能够确定整个装置的总分布损耗为每米30分贝，而且还能够捕捉到水平波导穿过螺旋延迟的每个环时的单个损耗事件，其中一些环的间距仅为50微米。

下面的图1到图3展示了OBR 4600在硅光子器件内部的窗口深度的值，以表征光子电路中的分布损耗。

你无法修复你看不见的东西。虽然硅光子学器件是将大量功能封装到一个非常小的封装中的一个极端例子，但现实情况是，更高的数据速率正在推动数据中心组件制造商缩小无源光学组件的尺寸。OBR4600-它可以看到你的芯片内部，帮助你在设计周期的早期发现问题。

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