PDL-201测量偏振相关损耗(PDL)、插入损耗(IL)和光功率
PDL-201采用符合TIA/EIA-455-198的最大最小搜索专利方法,在30 ms内同时测量偏振相关损耗(PDL)、插入损耗(IL)和器件的光功率。与使用极化置乱方法的PDL计不同,PDL-201的最大最小值技术对PDL的低值和高值都是有用的。与使用米勒矩阵技术的仪器不同,PDL-201不需要校准,它的波长范围很宽。
仪器的测量速度与远程控制接口相结合,使它能够在自动或半自动测试站与可调谐激光器一起工作。
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