PIC和硅光子学测试

光子集成电路(PICs)是推动通信、光学计算、航空航天、国防和医疗应用进展的关键推动者。bobapp综合体育下载然而，PICs引入了独特的测量挑战，并且测试仍然是将产品推向市场的总成本的一个很大的贡献。bob软件苹果怎么下载现代PICs的有效测试需要更全面和复杂的方法来确保最佳性能和降低开发成本。

Luna广泛的测试和测量解决方案为客户提供高精度、分辨率和测量速度仪器，以定量评估芯片上每个组件的光学性能，无论是在早期的原型阶段还是在生产阶段。

Luna拥有以微米级空间分辨率的传输模式或反射模式查看内部图片的技术，可以对该设备进行完整的光学表征。

典型的测量包括:

• 插入损耗(IL)
• 回波损耗(RL)
• 与波长有关的偏振损耗(PDL)
• 反射率/传输损失与距离
• 反射率/透射损失与波长
• 相位响应
• 群时延(GD)
• 色散(CD)与波长
• 偏振模色散(PMD)与波长
• 二阶PMD与波长的关系
• 极化造成的最小/最大损失
• 脉冲响应
• 琼斯矩阵和穆勒矩阵元素
• 相位纹波-线性和二次
• 偏振性能与距离的关系
• 偏振串扰与距离
• 偏振度(DOP)、偏振状态(SOP)、偏振消光比(PER)